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Fabricado por: Placa de Evaluación, 2 MOSFETs SiC C3M0120090J, Conmutación de Alta Frecuencia, Encapsulado DPAK-7
Placa de Evaluación, 2 MOSFETs SiC C3M0120090J, Conmutación de Alta Frecuencia, Encapsulado DPAK-7
Tags: Placas de Desarrollo y Herramientas de Evaluación, Kits de Desarrollo para Aplicaciones Especiales.
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Kits de Desarrollo para Aplicaciones Especiales