NCN4555GEVB | Kit de desarrollo interfaz NCN4555 Evaluación rápida del dispositivo de interfaz de tarjeta SIM NCN4555

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Kit de desarrollo interfaz NCN4555 Evaluación rápida del dispositivo de interfaz de tarjeta SIM NCN4555

Fabricado por: On Semiconductor

Datasheet

La placa de evaluación NCN4555 se ha diseñado para la evaluación rápida del dispositivo de interfaz de tarjeta SIM NCN4555. Entre sus principales características, esta placa de evaluación se ha construido para comunicarse fácilmente con sistemas del cliente a través de un conector de 16 contactos HE10 y un conector hembra para tarjeta SIM integrada. También se puede evaluar como una placa de evaluación independiente. El procedimiento de prueba considera el último de modo de evaluación a través de dos partes diferentes, principalmente el convertidor dc/dc lineal (LDO) y la función de desplazamiento de nivel. Esta placa de evaluación se puede utilizar para evaluar el rendimiento del dispositivo y permite al usuario colocar el dispositivo NCN4555 en un entorno de aplicación real. Cuando la intención es evaluar el dispositivo teniendo en cuenta las especificaciones de la hoja de datos, es importante tener en cuenta los circuitos complementarios que pueden introducir un consumo adicional de alimentación.

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