1 variante disponible.
Fabricado por: Texas Instruments
La placa de evaluación SmartRF06EB está diseñada para utilizarse con los módulos de evaluación inalámbricos como el CC2538EM (código RS 819-7418) para comprobación de rendimiento de radio y desarrollo de software. La placa incluye una sonda de depuración XDS100v3 integrada que permite descargar y depurar software en ejecución en el dispositivo SoC de destino basado en ARM. El depurador es compatible con el entorno IAR Embedded Workbench de Texas Instruments para ARM y Code Composer Studio (CCS).
Tags: Semiconductores, Kits de Desarrollo para Semiconductor, Kits de Desarrollo de Radio Frecuencia.
| Entrega y precio | |
|---|---|
| Unidades/pack | 1 |
| Precio unitario | 150,166€ |
| Entrega | 7 días |