Mostrando 1 resultados para Placa de Evaluación, 2 MOSFETs SiC C3M0120090J, Conmutación de Alta Frecuencia, Encapsulado DPAK-7.

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CRD-5FF0912P
CRD-5FF0912P

Fabricado por: Placa de Evaluación, 2 MOSFETs SiC C3M0120090J, Conmutación de Alta Frecuencia, Encapsulado DPAK-7

Kits de Desarrollo para Aplicaciones Especiales

Placa de Evaluación, 2 MOSFETs SiC C3M0120090J, Conmutación de Alta Frecuencia, Encapsulado DPAK-7

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